知识卡片
LT与ET是安全与性能的权衡
内容
epoll水平触发（LT）只要缓冲区非空/非满就持续触发，容易实现但可能重复触发；边缘触发（ET）只在状态切换时触发一次，效率更高但极易漏读（”short read”问题，一次没读完就永远错过）。实践默认选更安全的LT，因为ET漏读没有第二次机会。发散：这是”触发一次要求逻辑绝对完备”与”触发多次但容错”间的通用工程取舍。
参考来源
- 位置：第4章《操作系统》4.3.3节「select、epoll的LT与ET」（源文件：_epub-src/text/part0011.html）
- 结论依据：原文明确说明水平触发（LT）只要缓冲区非空/非满就一直触发，边缘触发（ET）只在状态切换时触发一次、容易漏读（short read问题），实际开发中大家倾向用LT因为ET容易漏事件没有第二次机会，直接支持卡片对LT/ET是安全与性能权衡、实践默认选更安全的LT的论述。
- 原始内容："水平触发：读缓冲区只要不为空，就会一直触发读事件……边缘触发：读缓冲区的状态，从空转为非空的时候触发一次……对于ET模式，要避免'short read'问题……在实际开发中，大家一般都倾向于用LT……因为ET容易漏事件，一次触发如果没有处理好，就没有第二次机会了。"