知识卡片
WA测试看内耗
内容
WA 测试把主机写入量和闪存真实写入量对齐，直接暴露固件后台搬移的内耗。只看主机侧吞吐会漏掉寿命成本；SMART 里的主机写与 NAND 写计数，能把这个成本量化。
参考来源
- 位置：《深入浅出SSD：固态存储核心技术、原理与实战》第7章《SSD测试》（源文件：_epub-src/OEBPS/text00128.html）
- 结论依据：原文给出 WA 公式，并说明主机写入量和闪存写入量可从 SMART 信息获取。
- 原始内容：WA的计算公式：WA=闪存写入的数据量/主机写入的数据量。只要知道了A（闪存写入的数据量）和B（主机写入的数据量）就可以知道WA了。