知识卡片
JEDEC耐久度测试怎么定时长
内容
JESD218A的Direct method要”往死里写、往死里读”，但先要靠公式反推该测多少块盘、允许多少失败：用UCL函数结合FFR（可接受故障率）和UBER（不可纠正比特错误率）算出样本量和最大允许错误数，而非拍脑袋定数量。同时利用高温加速原理，把常温一年的读写压缩到几十小时完成，温度越高等效时间越短。发散：可靠性测试的核心不是”跑得久”，而是先用统计模型把”合格”量化成可判定的数字。
参考来源
- 位置：《深入浅出SSD：固态存储核心技术、原理与实战》第7章《SSD测试》7.8节"耐久度测试"（源文件：_epub-src/OEBPS/text00130.html）
- 结论依据：原文给出UCL公式反推样本量和允许错误数的具体计算过程，以及高温加速对照表把一年使用压缩到几十小时的方法，直接支持卡片对JEDEC测试方法论的概括。
- 原始内容："制定标准时直接给了两个公式。UCL（functional_failures）≤FFR×SS……取两者之间的较大值……需要的跑测试的SSD数量是31块……当高温达到86℃时，对一块盘进行50小时的读写……能够达到常温下一年的效果。"